與Si-PiN二極管探測(cè)器相比，SDD：

-能夠處理更高的計(jì)數(shù)率

-分辨率更低（更好）

-背景水平較低

較高的計(jì)數(shù)率意味著在許多應(yīng)用中，管可以在較高的電流下工作，因此可以在與管腳相同的測(cè)試時(shí)間內(nèi)達(dá)到較低的LOD。

更好的分辨率意味著分析器可以更好地分離重疊的峰，這意味著對(duì)于區(qū)域靠近的元素，LOD更低。較低（較好）的分辨率對(duì)于最輕的元素Mg/Al/Si尤其重要。

較低的背景水平意味著較少的誤差引入的背景減法，這也導(dǎo)致較低的LOD。