鋼鐵龍頭都在用的手持式LIBS激光誘導擊穿光譜分
時間:2023-01-13 點擊次數(shù):325
Z-300系列手持式LIBS分析儀是世界上最先進的使用激光誘導擊穿光譜(LIBS)技術(shù)的手持式分析儀。根據(jù)型號的不同,配置的光譜范圍主要有三種:
標準范圍
l 190 nm – 950 nm(可測量H,N,O,F(xiàn),Cl,Br,Rb,Ce ,K,S等)
高分辨率CCD光譜儀堆棧設(shè)計從而可以測量元素周期表中每個元素(從H-U)的特征譜線。
Z-300系列采用功能強大的激光光源,能夠以5-6 mj /脈沖的頻率運行,并具有用戶可設(shè)置的表面清潔鏡頭和光束光柵。該設(shè)計對于像現(xiàn)實世界中的合金這樣具有表面污染的樣品至關(guān)重要,因此無需研磨或預(yù)處理材料。在金屬的典型配置中,Z-300會以50 Hz的頻率發(fā)射激光灼燒0.2 s,清潔樣品表面,然后以10 Hz的頻率收集數(shù)據(jù)。接著分析儀將激光移至下一個位置并重復(fù)。所有這些設(shè)置都針對金屬或地球化學樣品等特定應(yīng)用進行了預(yù)配置。操作員還可以針對其特定材料自定義此類設(shè)置。
與基于空氣的分析儀相比,SciAps專利技術(shù)的氬氣吹掃技術(shù)大大提高了精度和檢測極限??筛鼡Q式的迷你氬氣瓶置于手柄內(nèi),單只迷你氬氣瓶可支持600個點的測試,非常適用于現(xiàn)場快速檢測。
精密的激光光柵和樣品清潔
內(nèi)置高清攝像頭,可進行微區(qū)定點測試,適合分析均質(zhì)樣品中的特定區(qū)域和涂層材料等。
柵格化的可設(shè)置特性意味著您可以根據(jù)需要,將分析儀設(shè)置為單點或多點測試,最小可設(shè)定1個點,最大可設(shè)定16*16共256個點??煞治鋈魏畏N類的樣品(如:均質(zhì)材料、材料或小部件中的夾雜物或紋理以及涂層等)。
Z-300結(jié)合了用戶可控制的XY激光光柵和集成的高分辨率相機。對于異構(gòu)樣本,用戶可以設(shè)置和查看柵格圖案,以分析樣本中的特定區(qū)域。
對于均質(zhì)樣品,當激光束移動到樣品上的多個位置時,可以獲得最佳的LIBS結(jié)果,并將多個位置的結(jié)果自動平均??稍赬Y二維方向上移動激光束,并自動柵格化和平均數(shù)據(jù)。
Z-300可以設(shè)置為在同一位置發(fā)射多次激光照射,從而在進行樣品數(shù)據(jù)測試之前,將包括污垢,油污,腐蝕等在內(nèi)的表面污染物燒掉,隨后在相同位置進行的激光照射用于元素分析。用戶可以根據(jù)實際需要,進行一次或多次清潔設(shè)置操作,然后重復(fù)進行數(shù)據(jù)測試,并將XY柵格化到樣品上的新位置。對于許多樣品,清潔鏡頭對于獲得可重復(fù)的精確分析至關(guān)重要。
例如,對于巖石樣品,用戶可以從集成攝像機查看樣品,并定制柵格圖案以在特定區(qū)域上執(zhí)行LIBS分析。
ElementPro如何工作
測試任何樣品,無需校準。
測試僅需1-3秒,儀器會根據(jù)光譜數(shù)據(jù),搜索儀器自帶的發(fā)射譜線專有庫,為整個元素周期表建立相對發(fā)射強度。如圖所示,儀器顯示樣本中找到的所有元素的列表,并譜線的相對豐度進行 “可能性”評估。如果已檢測到某個元素所有的發(fā)射線或大多數(shù)發(fā)射線,那么高概率存在的元素狀態(tài)將會顯示為綠色。
光譜查看
需要檢查一個或多個元素?只需點擊元素圖標,軟件就會縮放到該元素的光譜區(qū)域。點擊任意一條線,軟件將放大該特定發(fā)射線周圍的光譜區(qū)域。無論發(fā)射線在哪里,它都會顯示一個綠色的垂直線。方便用戶快速確認元素的存在。
該分析儀具有針對特定應(yīng)用(合金,地球化學等)的預(yù)配置應(yīng)用程序。用戶可以創(chuàng)建自己的自定義分析模型,元素列表和校準曲線。可選配功能全面的ProfileBuilder軟件包,其中包括光譜預(yù)處理,化學計量,所有元素的發(fā)射線識別和定量校準設(shè)置。
Element Pro包括一個周期表中每個穩(wěn)定元素的LIBS發(fā)射線的內(nèi)置庫。只需測試一個樣本,并根據(jù)光譜峰,通過算法獲得存在的元素列表。Element Pro還基于各種材料中測得的線強度,提供相對豐度的定性分析。點擊一個元素以獲取標識存在線條的縮放光譜視圖。Element Pro是一款理想的應(yīng)用程序,可快速測試材料以發(fā)現(xiàn)存在的元素,而無需進行定量校準。
根據(jù)金屬材料缺陷位置及正常位置測得的元素線強度相對豐度的對比,來輔助判斷造成缺陷的原因,可能來自某些主元素的成分差異,或者來自某些微量元素的差異。為金屬表面缺陷分析提供數(shù)據(jù)支持。