手持式光譜分析儀因其操作方便檢測(cè)快速，已成為許多電子電氣行業(yè)的必備配件、原材料制造商對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行環(huán)境保護(hù)和內(nèi)部控制的儀器。手持式光譜分析儀本身的誤差受儀器的研發(fā)和所用附件的影響但是，在測(cè)試儀器的過(guò)程中，測(cè)試方法和人員的操作也會(huì)引入測(cè)試誤差讓現(xiàn)在我們來(lái)談?wù)勥@部分測(cè)試的影響因素。

　　1、手持式光譜分析儀檢測(cè)待測(cè)產(chǎn)品表面是否有油污或重金屬污染。如果有，一定要清理干凈才能上電腦測(cè)試。

　　2、手持式光譜分析儀測(cè)試的產(chǎn)品表面是否有涂層或電鍍層，如果有較厚的涂層，且要測(cè)試涂層內(nèi)部基體的環(huán)境有害元素，測(cè)試前需要清洗表面的涂層，如薄金屬表面鍍鎳、鍍鋅層也可以直接檢測(cè)，但是會(huì)對(duì)內(nèi)部基材的檢測(cè)結(jié)果有部分影響。

　　3、手持式光譜分析儀如果金屬表面鍍錫，它將使用“測(cè)無(wú)鉛焊錫材料”要測(cè)試的項(xiàng)目，如果要測(cè)試內(nèi)部基板的環(huán)境有害元素，需要清洗錫鍍層，選擇相應(yīng)的測(cè)試條件進(jìn)行測(cè)試。

　　4、當(dāng)與其他金屬物體或塑料部件混合時(shí)，不同材料的樣品需要分別進(jìn)行測(cè)試。

　　5、如果手持式光譜分析儀的樣品過(guò)小，則需要多取相同材料的樣品，以盡可能覆蓋充滿(mǎn)X熒光的斑點(diǎn)如果樣本太少，量不夠，就要盡量多取樣本，延長(zhǎng)檢測(cè)時(shí)間。

　　6、還有一些光化膜、對(duì)于表面有反射層的樣品，測(cè)試時(shí)需要將樣品傾斜一定角度，防止樣品反射X射線，影響測(cè)試結(jié)果。